细粉加工设备(20-400目)
我公司自主研发的MTW欧版磨、LM立式磨等细粉加工设备，拥有多项国家专利，能够将石灰石、方解石、碳酸钙、重晶石、石膏、膨润土等物料研磨至20-400目，是您在电厂脱硫、煤粉制备、重钙加工等工业制粉领域的得力助手。
超细粉加工设备(400-3250目)
LUM超细立磨、MW环辊微粉磨吸收现代工业磨粉技术，专注于400-3250目范围内超细粉磨加工，细度可调可控，突破超细粉加工产能瓶颈，是超细粉加工领域粉磨装备的良好选择。
粗粉加工设备(0-3MM)
兼具磨粉机和破碎机性能优势，产量高、破碎比大、成品率高，在粗粉加工方面成绩斐然。
多晶硅中石墨检测设备
多晶硅中石墨检测设备
多晶硅中石墨检测设备,目前"产能多而应用少"的石墨烯产业,该如何避免多晶硅故事的"重演"?盛毅认为政府可委托专业机构,加强市场监测。当市场传递出过剩信号时,及时高纯石墨 2023年9月25日 石墨舟检测常见的检测项包括：少片、硅片翘起、硅片缺角、舟体变形、螺母松动。 项目要求： CT：10~15sec/舟； 误检率：≤03%； 漏检率：≤03%； 检测需 PECVD石墨舟检测（行业：新能源光伏；应用：缺陷检测
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多晶硅生产中的分析检测(学员版) 百度文库
多晶硅生产中的分析检测 (学员版) 因为当以基体元素作为内标元素时，无论在标样或试样中，内标元素含量都较高，接近于常量（或 者在粉末或溶液状态的样品中加入专用内标 2024年6月5日 通过本次实验总结，从理论依据上和设备及附属件上找到了异常料的生成真正原因，从而找到解决的方法，全年外部异常率逐渐下降，避免了多晶硅生产中异常料 多晶硅异常料的分析及解决办法 艾邦光伏网
多晶硅中石墨检测设备
多晶硅中石墨检测设备 T00:08:12+00:00 行业标准《硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定百度文库 本标准适用于多晶硅用石墨制品中13种元素的测定，可满足多晶硅用高纯石墨的检测。 测定范围：电感耦合等离子体发射光谱法具有测定下限低、多 2022年11月15日 本方案参考《GB／T 370492018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》，建立EG20B 微控数显电热板前处理、电感耦合等离子体质谱仪LabMS 3000s ICPMS 测定电子级多晶硅 中基体金属杂质含量的方法。1仪器设备电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 labtechgroup
多晶硅中杂质含量分布及其检测方法的探讨百度文库
国内多晶硅中杂质检测方法研究进展 元素含量的常见手段主要可概括为两大类 。 1 1 检测多晶硅表面元素分布的方法 多晶硅表面杂质元素的含量及分布直接关系到 其性能和特点， 常用的分析方法是 X 荧光光谱法 （ XRF） [12]， 此法可以定性、 定量分析包括 Explore Zhihu Zhuanlan, a platform for free expression and creative writing知乎专栏 随心写作，自由表达 知乎
行业标准《硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定doc
2018年1月12日 由于对多晶硅用石墨制品只有物理方面的相关技术指标及检测方法，对于杂质含量的技术指标及检测方法暂无，为避免石墨制品中杂质对多晶硅品质的影响，故对石墨件中杂质含量进行分析。 2、 任务来源根据， 20141288TYB，要求于2015年完成。2024年3月19日 第三方高纯石墨检测机构北京中科光析科学技术研究所科研分析检测中心在高纯石墨检测领域拥有多年检测经验。可进行高纯石墨、结晶石墨、石墨纤维、石墨烯、颗粒石墨、膨胀石墨、压缩石墨、石墨工件、石墨粉末、热解石墨、烧结石墨、碳化石墨、石墨电极、石墨炉、石墨阀门、石墨制品 高纯石墨检测科研检测机构丨中析研究所「分析检测中心」
一种多晶硅中碳含量的检测方法与流程
2022年3月26日 1本发明属于多晶硅技术领域，具体涉及一种多晶硅中碳含量的检测方法。背景技术： 2多晶硅料是光伏行业及半导体行业生产直拉单晶或区熔单晶的原料，其会含有碳杂质，而碳是有害的杂质，严重 多晶硅生产工艺过程如下：首先进行装炉，将硅芯安装于底盘电极之上，通过石墨配件定位和固定(硅芯规格各生产厂家控制标准不一，高度一般为22～28 m，截面为圆形或方形，直径或边长为8～15 mm不等)，硅芯安装完毕即可将炉筒和底盘进行紧固，经过试压还原炉生产多晶硅常见问题及对策探讨 百度文库
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单晶硅/多晶硅微量杂质元素ppb测定检测资讯嘉峪检测网
2018年3月6日 对于多晶硅块体中的痕量元素，方法检测限为每克硅（001 g / ggSi或ppbw）001至01纳克，用于高纯度硅测试。 检测限在02 ppbw范围内的方法作为较低成本的替代方案提供。 根据超过30个单独试验，30种元素的平均加标回收率在82％到106％之间。 我们还根据ASTM 2、多晶硅的基磷测定： 、多晶硅的基磷测定： 所谓多晶硅的基磷测定是指测试我们生产的多晶硅中原始含磷量的 多少，根据下面介绍的测试方法，其实质是测得的多晶硅中Ⅴ 多少，根据下面介绍的测试方法，其实质是测得的多晶硅中Ⅴ族杂质 的含量。多晶硅制备中的理化检测百度文库
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改良西门子法多晶硅工艺中氢气质量检测方法的研究 百度学术
摘要： 随着多晶硅行业的蓬勃发展,其生产技术及装备水平也快速发展,市场对多晶硅的质量要求愈来愈高。本论文重点论述了生产多晶硅原料之一氢气的质量监控方法,研究并优化了现有的检测方法,同时针对生产系统的特殊性,研究探索出氢气中氯硅烷组分和氢气中元素杂质的检 单晶硅生产工艺流程： 1、石头加工 开始是石头， (石头都含硅)，把石头加热，变成液态，在加热变 成气态，把气体通过一个密封的大箱子，箱子里有 N 多的子晶加热， 两头用石墨夹住的，气体通过这个箱子，子晶会把气体中的一种吸符 到子晶上，子晶慢慢就 单晶硅多晶硅的生产设备工艺流程合集百度文库
石墨测试与分析康派斯检测集团官网专业第三方检测机构康
2024年5月16日 可快速出具CMA石墨检测报告，资质齐全，实验室仪器齐全，科研团队强大。 详情可咨询： 服务范围 全国 检测周期 57个工作日，可加急 相关资质 可提供CMA、CNAS检测报告 服务模式 快递寄样、现场取样、人工送样 服务对象 企事业单位 南通盛华石墨设备有限公司专业生产石墨换热器、石墨冷凝器等石墨设备。欢迎参观,指导! 。石墨换热器、石墨冷凝器等石墨设备先后应用在国内氯碱、农药、化纤、染料、石油化工、医药、树脂、有机合成等化工生产中，作为蒸发器、冷却器、稀释器、尾气回收以及环境 石墨换热器,石墨冷凝器,石墨设备南通盛华石墨设备有限公司
一种多晶硅基表面金属元素杂质检测的系统及方法与流程
2022年8月31日 34目前的多晶硅检测中，以下是常见的导致新问题的场景，以及为解决新问题而采用的对应解决措施的处理方案： 35场景一、电子级多晶硅表金属杂质的检测标准方法中前处理的问题 36目前国内电子级多晶硅表金属杂质的检测标准方法有《gbt 245822009 2023年4月18日 3、一种pecvd镀多晶硅用石墨舟的清洗方法，包括以下步骤： 4、s1，将待清洗石墨舟置于水汽氧化炉内，于200300℃条件下通入水蒸气至炉内压力为1020个大气压，阶梯式升温至11001200℃，保温35h，惰性气氛下降温，得预处理石墨舟； 5、s2，将所述预处理石墨舟 一种PECVD镀多晶硅用石墨舟的清洗方法与流程 X技术网
石墨材料在铸锭多晶硅制造中的应用百度文库
2010年9月17日 本报告所涉及、调研的半导体、光伏产业用石墨制品，主要就是由人造石墨材料作为原料制出的。 目前，太阳能用于多晶硅片主要采用铸造多晶硅，多晶片的制作工艺是一个铸造过程，在这个过程中，熔化的硅被倾倒到一个模子里并且被定型，然后它被切成薄 2019年12月18日 随着多晶硅行业的蓬勃发展，其生产技术及装备水平也快速发展，市场对多晶硅的质量要求愈来愈高。本论文重点论述了生产多晶硅原料之一氢气的质量监控方法，研究并优化了现有的检测方法，同时针对生产系统的特殊性，研究探索出氢气中氯硅烷组分和氢气中元素杂质的检测方法。改良西门子法多晶硅工艺中氢气质量检测方法的研究 豆丁网
管式PECVD 设备的温控系统调节对镀膜均匀性的影响分析
2020年6月18日 管式PECVD 设备的温控系统调节对镀膜均匀性的影响分析 反应生成的尾气在炉尾位置由泵从炉管内部抽 大到 35 ℃的过程中，与初始设置时相比，管式 出；特气在炉管内的运动过程中经过加热区时被 PECVD 设备所镀氮化硅薄膜的膜厚和折射率的 加热，经 高纯多晶硅中痕量金属元素含量的分析方法研究 太阳能是一种重要的,新的,有用的可再生洁净能源,其储量庞大,没有环境污染,有着诱人的远景由于下游客户太阳能电池生产商对电池片的转化率要求越来越高,故而对硅料的品质也提出了更高的要求以前仅限于对磷 高纯多晶硅中痕量金属元素含量的分析方法研究 百度学术
石墨材料在铸锭多晶硅制造中的应用百度文库
2010年9月17日 412多晶硅铸锭炉的结构组成 根据多晶硅片的生产工艺可以得知其核心设备为大容量多晶硅铸锭炉。它是将硅料高温熔融后通过定向冷却冷凝结晶，使其形成晶向一致的硅锭，从而达到太阳能电池生产对硅片品质的要求。2023年9月25日 石墨舟检测常见的检测项包括：少片、硅片翘起、硅片缺角、舟体变形、螺母松动。 CT：10~15sec/舟； 误检率：≤03%； 漏检率：≤03%； 检测需求：硅片少片、翘起、缺角，螺母松动、舟体变形。 1、由于面阵相机需要多个，架设受到设备安装的空间限 PECVD石墨舟检测（行业：新能源光伏；应用：缺陷检测
关于多晶硅中施主杂质含量的定量分析方法综述百度文库
关于多晶硅中施主杂质含量的定量分析方法综述 [1]杨德仁太阳电池材料,化学工业出版社,2008年01月 [2]刘崇华光谱分析仪器使用与维护,化学工业出版社,2010年10月 对每一种方法的现状做了简要的论述。 高纯多晶硅是电子工业和太阳能光伏产业的基础原料，在 试验方法 针对锂离子电池石墨类负极材料的不同性质和要求，检测认证机构采用的试验方法有很多种。 下面列举的是其中常用的试验方法： 石墨类负极材料比表面积测试：根据不同的试验标准，使用比表面积测试仪测得石墨类负极材料的比表面积，评估其 电池负极材料检测电池原材料NTEK北测检测集团
美尔森 半导体 高纯度等静压石墨 石墨 SiC涂层
美尔森已经掌握了碳化硅薄膜的沉积工艺，在特别苛刻的环境中为石墨设备提供最佳的保护。 用于半导体及光伏行业的高纯度石墨，采用ETV ICP OES方法控制 美尔森已经研发了能够显著改善材料物理化学性能的工 并建有完善的产品质量检测仪器和设备。 公司主要致力于光伏行业多晶硅、单晶硅石墨组件的生产和新型石墨制品的开发、设计、制造。公司的主要产品有多晶硅还原系统高纯石墨组件，单晶硅拉晶炉、多晶硅铸锭炉等静压高纯石墨加热系统及半导体 组织详情
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多晶硅铸锭生产气体在线检测系统
2020年7月24日 基于此本文提出了多晶硅铸锭生产气体在线检测系统, 该系统通过生产过程中对铸锭氩气的在线检测,实时掌控铸锭生产过程中炉腔内气氛的变化, 从而判断当时生产过程是否出现异常,并在条件允许的情况下立即采取措施, 能够有效的减少异常损失。 不同于王振 2024年6月5日 多晶硅异常料的分析及解决办法 1 研究的目的和意义 太能能级和电子级多晶硅产品对硅棒的质量要求很高，如果多晶硅产品在生产时混进甲烷等含碳化合物的话，可以测得发黑的硅棒电阻率很低，从而导致产品品质下降;另外如果有上述气体或者其他水气和杂 多晶硅异常料的分析及解决办法 艾邦光伏网
多晶硅中石墨检测设备
多晶硅中石墨检测设备 T00:08:12+00:00 行业标准《硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定百度文库 本标准适用于多晶硅用石墨制品中13种元素的测定，可满足多晶硅用高纯石墨的检测。 测定范围：电感耦合等离子体发射光谱法具有测定下限低、多 2022年11月15日 本方案参考《GB／T 370492018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》，建立EG20B 微控数显电热板前处理、电感耦合等离子体质谱仪LabMS 3000s ICPMS 测定电子级多晶硅 中基体金属杂质含量的方法。1仪器设备电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 labtechgroup
多晶硅中杂质含量分布及其检测方法的探讨百度文库
国内多晶硅中杂质检测方法研究进展 元素含量的常见手段主要可概括为两大类 。 1 1 检测多晶硅表面元素分布的方法 多晶硅表面杂质元素的含量及分布直接关系到 其性能和特点， 常用的分析方法是 X 荧光光谱法 （ XRF） [12]， 此法可以定性、 定量分析包括 Explore Zhihu Zhuanlan, a platform for free expression and creative writing知乎专栏 随心写作，自由表达 知乎
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